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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Léa Hermenault
Leclercq Romain
Leila Ghorbel
Léna Jean-Yves
Leny Keo
Leonel Duarte Naranjo
Leonel Duarte Pla
Léopold Djoutsa Wamba
Lessiad Ahmed Sid Ahmed
Lhoussain SIMOUR
Liliana Audin-Garcia
Lionel Mathelin
Lionel Scotto d’Apollonia
Lionel Touchais
Liva Jackson Raharinaivo
Liza Debevec
Logan R. Kline
Loic DARCHY
Loïc HARRAULT
Loïc Petitgirard
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