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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Maksim V. Kukushkin
Malick N’Diaye
Malika Madelin
Malou Delplancke
Malvina Apostolou
Mamadou Ndione
Mamby KEITA
Mananjara Pamphile
Mananjara Pamphile
Manas R. Sahoo
Manfred Horstmann
Manon Enjolras
Mansoor Saburov
Manuele Kirsch Pinheiro
Manuele Kirsch Pinheiro
Marc Baudry
Marc Baudry
Marc Bodson
Marc Boulay
Marc Delepouve
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