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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Allal Ghanmi
Roy M. Turner
Yohann Chasseray
A. Alian
A. El aoudi
A. El Hami
A. El-Hami
A. Eljihad
A. Ghanmi
A. Hadjian
A. Nyoungue
A. Ouballouch
A. Schenk
A. Toleukhanov
A. Vandooren
A. Verhulst
A.Ouibrahim
Aastha Malhotra
AB Hamid Kawa
Abbes KACIMI
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