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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Ahmed Tchvagha Zeine
Ahmed Zeglaoui
Aicha Koulou
Ainazo Andriamanantena
Aissa Ouballouch
Aissa Ouballouch
Aissa Ouballouch
Aissa Ouballouch
Aissa OUBALLOUCH
Aissam Outchakoucht
Ajay Kumar
Ajay Kumar
Akram Krichene
Akram Krichene
Akram Krichene
Akrout Ali
Akyama Tetsuo
Alaa HASSAN
Alain Baldocchi
Alain Bouju
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