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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Abdallah ATTOUMANI
Abdallah Bouabidi
Abdallah Mhimid
Abdallah Shokry
Abdelaziz KHOUDI
Abdelbaki Selmi
Abdelghani Bekrar
Abdelghani ELJIHAD
Abdelhamid Amar
Abdelhamid Amar
Abdelhamid Benmezaï
Abdelilah Elbazze
Abdelkader Bouarfa
Abdelkader Tatachak
Abdelkarim Boua
Abdelkerim Chouaf
Abdelkhalak El Hami
Abdelkhalak El Hami
Abdelkhalak El Hami
Abdelkhalak El-Hami
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