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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Alexis Sierra
Ali BENHMIDENE
Ali El Arabi
Ali Fellah
Ali Fellah
Ali Fellah
Ali FELLAH
Ali HADDACH
Ali Haddach
Ali Hafoud
Ali Noumir
Alice CAO
Alice Dupas
Alice Jarry
Aliénor de Rouffignac
Aliénor de Rouffignac
Aliénor de Rouffignac
Alireza Hassani
Alireza Moradi
Alison Laurie Neilson
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