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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Amir Hazem
Amira Chouchane
Amjad Tuffah
Ammour Alae
Amr Alzhouri Alyafi
Amri Toumia
Amy Oliver
Ana Isabel Andrade
Anabelle Viau-Guay
Anaël Soubigou
Anaïs Belchun
Anaïs Chapot
Anaïs Tondeur
Anaïs Tondeur
Anas Abou El Kalam
Anas Abou El Kalam
Anderson Fabian Mosquera Varela
André Benine-Neto
André Bontemps
André J.C
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