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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Karine Gauche
Karl Joulain
Katarina Čufar
Kate Revoredo
Katell Quenea
Katherine Gruel
Katia Sycara
Katie Brzustowski-Vaïsse
Katir Ziouche
Kawtar Esstar
Kévin Deturck
Kevin Maréchal
Keyvan Narimani
Khadija Bekkay Haouari
Khadija Madani
Khadija STILI
Khadijah Abdullah Sharaf
Khaissidi Ghizlane
Khaled Ben Ali
Khaled CHETEHOUNA
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