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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Julien Paolini
Julien Pellé
Julien Rebotier
Julien Soula
Juliette Taïeb
Juliette Taïeb
Juliette Taïeb
Julio C. Ramos-Fernández
Julius Akinyemi
Jun Shao
Jun Shao
Junior Dongo
JUSTIN FEUTO
Justine Gadreaud
K. Ben Ali
K. T. Joseph
Kai Fechner
Kako Nubukpo
Kalliopi Benetos
Kamel Khirouni
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