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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
John Mwangi Wandeto
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
John R. Dolan
Jonah Rantsimbazafy
Jonas Bertin Malou
Jonathan Deniel
Jonathan Deniel
Jonathan OUTIN
Jordan Letessier
Jorge Vargas Florez
José de la Fuente
José E. Sanabria
Jose S. Cánovas
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