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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
L. A.Rajoharisoa
L. Costa
L.-E. Wernersson
Labib Sadek Terrissa
Ladjel Bellatreche
Laetitia Adelard
Lakdar KAIROUANI
Lamis Benmanseur
Lamprini Chartofylaka
Landiarimisa Ramanankaja
Landy Andriamampianina
Larbi Lasri
Lassaad WALHA
Lassaad Walha
Latifa Adjoudj
Latra Boumaraf
Laura Anastasio Forcisi
Laure Laüt
Laure Morel
Laure MOREL
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