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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Fatima-Ezzahrae Jabri
Fatma ABID
Fatma Chamekh
Fatma Miladi
Faycal Ben adda
Federica Pollastro
Fedoua Kasmi
Fedoua Kasmi
Fedoua Kasmi
Fehmi Jaafar
Felamboahangy Rasoarahona
Félicien Ravelojaona
Felipe Ariani
Félix Tomi
Fenintsoa Andriamasinoro
Fenozo Andriamanantena
Feras Batarseh
Ferdinand Moussavou
Fergal O’Rourke
Ferid Mezdari
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