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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Fabien Mangione
Fabienne Delfour
Fabienne Grebert
Fabrice Caudron
Fabrice Charleux
Fabrice Laurent
Fabrice LEMOINE
Fabrice Muhlenbach
Fabrice TEUGUIA
Fabrizio D’Ortenzio
Faker Bouchoucha
Fanilo Ny Aina Ramanitrinizaka
Fano Ramparany
Faouzi Masmoudi
Faouzia Kalali
Fatah Benatia
Fateh Bouretoua
Fateh Bouretoua
Fatiha Fort
Fatima Amirach
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