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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Estelle Guerry
Estelle Lauga-Larroze
Étienne Amiet
Etienne Fieux
Étienne Hainzelin
Eugénie Josephine
Eugénie Kabali Hamuli
Euphrasie Angbo-Kouakou
Ève GOLOMER
Ève Golomer
Eveline M.F.W. Compaoré Sawadogo
Eveline M.F.W. Sawadogo /Compaore
Evelyne F. Lhoste
Eymard Fäder
F. Ongowe
F.Brahimi
Fabian Brau
Fabian Horst
Fabian Hosenfeld
Fabien Knittel
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