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Domaines
Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Yannick Sieffert
Yasmina Boukhchana
Yasmine Boughzala
Yassine Cherif
Yasuhisa Omura
Ye. Belyayev
Ye. Yerdesh
Yoann RABASTÉ
Yoann Tatarenko
Yoshiyuki Ueno
Yosra Ben Salem
Yosra Ounis
Younes ABOULIATIM
Younes ABOULIATIM
Younes Boujelbene
Younes BOUJELBENE
Youssef Cherif
Youssoufou Mahaman
Yueming Lu
Yves Bouchard
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