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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Vincent Mendy
Vincent Riquier
Vincent Robin
Vincent Roumy
Vipin Mogha
Virginie Ratovelomanana-Vidal
Virginie Ratovelomanana-Vidal
Virginie Thion
Vittorio Cocchi
Vittorio Cocchi
Viviana Yaccuzzi Polisena
Viviane Couzinet
Vivien Mathé
Vlada Stegarescu
Vololoniaina Ramahatafandry
Vololonirina Nantenaina ANDRIANATOANDRO
W. Ogana
Wadie Abdelhadi
Wael Zeitoun
Wafaa Djelladj
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