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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Willy Tegel
Willy Tegel
Wulf Hein
Wulli Faustin Djoufouet
Xavier Baril
Xavier Foissard
Xavier Fressoz
Xavier Moreau
Xavier Roth
Xavier TARDIF
Xavier Vasques
Xosé Lois MÉNDEZ FERNÁNDEZ
Y. Mols
Yacine Aït Amrane
Yacine Ait Oumeziane
Yacine BENJELLOUN
Yadh Riahi
Yanis Zatout
Yaniss Nyffenegger-Péré
Yanjun Cao
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