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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Susanna Reggiani
Sylvain Balume
Sylvain Bourdel
Sylvain Cailliez
Sylvain Connac
Sylvain Dernat
Sylvain Moura
Sylvain Munger
Sylvain Perret
Sylvain Rode
Sylvain Saïghi
Sylvana TOMBOANONA
Sylvana Tomboanona
Sylviane Blanc Maximin
Sylviane Blanc-Maximin
Sylvie Bégot
Sylvie BEGOT
Sylvie Blangy
Sylvie Clarimont
Sylvie Dallet
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