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Domaines
Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Sylvie Daviet
Sylvie Ferrari
Sylvie Rouillon-Valdiguié
Sylvie Servain
Sylvie Servigne
Syndhia Mathé
T. Max Friesen
Tage Petersen
Tahar Kateb
Taher AbuAlrub
Takashi Kohno
Tanguy Struye de Swielande
Tania Gallego
Taoufik Ben Taib
Tarak Arbi
Tarek MERZOUKI
Tarek Saanouni
Tarik Chakkour
Tassadit Amghar
Tatiane RAZAFINDRAZANDRY
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