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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Said Ridene
Said Zarati
Salah Drabla
Salah-Eddine Rebiai
Salem Abdelmalek
Salif Derra
Saliha Hadna
Salimeh Yasaei Sekeh
Saloua Mani Aouadi
Sameh Hrairi
Sameh Hrairi
Samia Bouzefrane
Samnang Nguon
samszo
Samuel Bassetto
Samuel Nowakowski
Samuel Rooney
Samuel Szoniecky
Samuel TRONÇON
Samuele Meier
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