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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Silvio de Oliveira Junior
Simon Chatelin
Simon Georges Andrianasetra
Simon Peiffer
Sinda Haouès-Jouve
Sirine Dhaoui
Slah Eddin Ben Abdeljalil
Slim Zidi
Slimane Hammoudi
Smaïl AÏT EL HADJ
Smaïl Aït-el-hadj
Smail Charif
Snoun Safa
Soboua Thera
Sofia Vairinho
Sofian Audry
Sofiane Tahi
Sofiane Tahi
Sofiene Fenina
Soheyb Ayad
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