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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Michele Derrick
Michele Visciarelli
Michelet Lamour
Micheline Lelièvre
Michelle Elliott
Michelle Mongo
Michelle Mongo
Mick Salomone
Mickaël COURTOIS
Mihaela Barreau
Mihai Niculae
Miklos Banhidi
Minami Soichiro
Mirella Serlorenzi
Miriana Kfoury
Miyuki Matsuo-Ueda
Moez Khenissi
Mofdi El-Amrani
Mohamad Hamad
Mohamed Abdessamia Chakchouk
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