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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Mathieu Moze
Mathieu Roche
Mathieu Thomas
Mathieu Valette
Mathieu Valette
Mathilde Buratti
Mathilde Gralepois
Mathilde LANCELOT
Mathilde Murat
Mathilde Rue
Mattheos SANTAMOURIS
Matthew J. JACOBSON
Matthew Sassman
Matthieu Ambroise
Matthieu Le Bailly
Matthieu Quantin
Maurice Fadel
Mauricio CAMARGO
Mauricio Camargo
Mauro Ballero
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