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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Marta Calanchi
Martial Jorel
Martial Sonfack
Martin Abysina Soda
Martin DAVID
Martine Legris
Martine Legris
Marwa Ltaifa
Maryse Cadet-Mieze
Maryse Potvin
Maryse Salles
Mashhour Chakouch
Mata Mamoudou KALLE
Mathias Bollaert
Mathias Paulin
Mathieu Bonnefond
Mathieu Désolé
Mathieu Durand
Mathieu Lafourcade
Mathieu Lafourcade
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