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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Mouad ENNADI
Moufida Jnen
Mouna El Hafi
Mouna Hadj Kacem
Mouna Hamed
Mounim A. El-Yacoubi
Mounir Mesbah
Mounir Mesbah
Mounir Touzani
Mourad Abed
Mourad Messaadia
Mourad Rabah
Mrabti Mostafa
Muhammad I. Mustafa
Muluken Z. GETIE
Muriel CARIN
Muriel Davies
Muriel Gandelin
Muriel Guedj
Murielle Georges-Leroy
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