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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
[email protected]
Voir en ligne :
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Articles de cet auteur (4)
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Les auteurs
Richard A. Brualdi
Richard Fournier
Richard Le Goff
Rick Carter
Ridha Elghoul
Ridolfi Natascia
Rim Romdhane
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
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Robert L. Miller
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Roberto Paolo Vico
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