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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
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Articles de cet auteur (4)
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Les auteurs
Rodolphe Testa
Rodrigo Agerri
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Prud’homme
Roger Vony
Roger Vony
Roland Genier
Roland Lehoucq
Roland Ortt
Romain COLLIGNON
Romain David
Romain Debref
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