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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Dorothée Denayer
Dorra Bourguiba
Dorra Dridi
Dounia Makoure
Doyle McKey
Dr. Florin Paun
Dr. Lyes Gheddache
Dr. Michel Dabas
Driss Sarsri
Duong Thoaï N’Guyen
E. Memisevic
E. Simoen
Edgar L. Tchoundja
Edino Joma
Edino Joma
Edmond Abi-Aad
Edoardo Ballico
Edoardo Ballico
Edoardo Ballico
Edoh Tossou
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