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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Damien Nouvel
Damien Serre
Damien Trentesaux
Damienne Provitolo
Dan Buca
Daniel Bachet
Daniel Beysens
Daniel Casanova
Daniel Condis
Daniel Galvez
Daniela Peloso
Danzo A.
Daria Parkhomenko
Darious Ghavami
Darryl Neil Nitcheu Wakponou
Daudé Éric
Dave Mobhe Bokoko
Dave MOBHE BOKOKO
Dave Mobhe Bokoko
Davia Dosias-Perla
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