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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Richard Fournier
Richard Le Goff
Rick Carter
Ridha Elghoul
Ridolfi Natascia
Rim Romdhane
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Rivoharinala RASOANARIVO
Robert L. Miller
Robert Nardone
Robert Viseur
Robert VISEUR
Robert Viseur
Roberto Paolo Vico
Rodica Niculescu
Rodolphe Testa
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