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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
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Articles de cet auteur (4)
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Les auteurs
Thomas Leduc
Thomas Michaud
Thomas Michaud
Thomas Michaud
Thomas Michaud
Thomas Michaud
Thomas Michaud
Thomas Michaud
Thomas O’Neal
Thomas O’neal
Thomas O’Neal
Thomas PIERRE
Thomas Polacsek
Thomas Thevenin
Thomas Villemin
Tiantsoa Andrianasetra
Tien Tuan Dao
Tiffany Aubert
Tilman Lenssen-Erz
Timothée Levi
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