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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
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Voir en ligne :
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Articles de cet auteur (4)
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Les auteurs
Stéphane Renault
Stéphane Safin
Stéphane Victor
Stéphane Vincent
Stéphane Vincent
Stéphanie Bertrand
Stéphanie Buisine
Stéphanie Demers
Stéphanie Gast
Stéphanie Jacquemot
Stephanie O.L. Lacour
Stéphanie Tubert- Jeannin
Susanna Reggiani
Sylvain Balume
Sylvain Bourdel
Sylvain Cailliez
Sylvain Connac
Sylvain Dernat
Sylvain Moura
Sylvain Munger
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