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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Bilal Ahmad Wani
Bilal Ahmad Wani
Bilel Khelifi
Bilel Krichen
Bimrew T. ADMASSU
Binty Ali SOAFIA
Birgitta Dresp-Langley
Bjorn Seguin
Blaise E.
Blaise Waly Basse
Blaise Waly Basse
Blaise Waly Basse
Blaise Yvert
Blandine Laperche
Blandine Laperche
Blandine Laperche
Blandine Laperche
Blandine Nouvel
Bois Evelyne
Botovao Auguste RAMIANDRISOA
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