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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Paul Janin
Paul L. H. McSweeney
Paul Muller
Paul Pelletier
Paul Rasse
Paula Fernandes
Pauline Munoz
Paweł Ziółkowski
Peinetti A.
Pereira Ángeles
Perrine Devleeshouwer
Pete Dawson
Peter Danchev
Peter Ryan
Peter Walter
Phannarath Phansavath
Philippe BOISSINOT
Philippe Bruyerre
Philippe Declerck
Philippe Désévaux
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