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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Glomeron Frédéric
Gmiza Wafa
Gopal Datt
Gowid S.
Grace TWITE
Grace Twite
Grégoire Lefebvre
Gregor Mussler
Grégory Froger
Grégory Ninot
Grégory Pereira
Guadalupe Ortiz
Guillaume Béraud
Guillaume Blum
Guillaume CASTANET
Guillaume Chiron
Guillaume Crédoz
Guillaume Crédoz
Guillaume Dechambenoit
Guillaume Hensel Fongang Fouepe
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