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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
[email protected]
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Articles de cet auteur (4)
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Les auteurs
Bilal Ahmad Wani
Bilal Ahmad Wani
Bilel Khelifi
Bilel Krichen
Bimrew T. ADMASSU
Binty Ali SOAFIA
Birgitta Dresp-Langley
Bjorn Seguin
Blaise E.
Blaise Waly Basse
Blaise Waly Basse
Blaise Waly Basse
Blaise Yvert
Blandine Laperche
Blandine Laperche
Blandine Laperche
Blandine Laperche
Blandine Nouvel
Bois Evelyne
Botovao Auguste RAMIANDRISOA
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