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Domaines
G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
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Voir en ligne :
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Articles de cet auteur (4)
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Les auteurs
Yoann Tatarenko
Yoshiyuki Ueno
Yosra Ben Salem
Yosra Ounis
Younes ABOULIATIM
Younes ABOULIATIM
Younes Boujelbene
Younes BOUJELBENE
Youssef Cherif
Youssoufou Mahaman
Yueming Lu
Yuri Babenko
Yves Bouchard
Yves Bourrieau
Yves Desdevises
Yves Fautrelle
Yves Guillou
Yves Heri
Yves Petit-Berghem
Yves Richard
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