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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
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Articles de cet auteur (4)
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Les auteurs
Michael Lewis
Michael Rath
Michael Saidani
Michel Cartereau
Michel DABAS
Michel Dalmas
Michel DESHAIES
Michel Feidt
Michel Feidt
Michel Feugère
Michel Fliess
Michel Gradeck
Michel Harel
Michel Kreutzer
Michel Lavigne
Michel Lavigne
Michel Menard
Michel Moruzzis
Michel ONDARTS
Michel Sonntag
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