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Domaines
G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
[email protected]
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Articles de cet auteur (4)
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Les auteurs
John R. Dolan
Jonah Rantsimbazafy
Jonas Bertin Malou
Jonathan Deniel
Jonathan Deniel
Jonathan OUTIN
Jordan Letessier
Jorge Vargas Florez
José de la Fuente
José E. Sanabria
Jose S. Cánovas
Joseph B. Lyons
Joseph Casanova
Joseph Dgheim
Joseph Gril
Joseph Ngatchou-Wandji
Joseph Tin Yum Wong
Joseph Zaccai
Josiane Mothe
Joy
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