TY  - Type of reference 
TI  - Etude probabiliste d’un système embarqué 
AU  - Bouchaïb Radi 
AU  - Nadia Saadoune 
AB  - Les systèmes embarqués peuvent être définis comme des systèmes électroniques et informatiques autonomes qui sont de plus en plus utilisés pour contrôler les systèmes complexes, ils se trouvent dans l’équipement médical, les guichets automatiques, etc. Le test de chute connu sur la dénomination « drop-test » est la méthode la plus utilisée pour l’évaluation de la fiabilité des joints de brasure, en utilisant la description de la procédure du drop test selon le standard
JEDEC. Dans cet article, nous présentons une simulation du modèle d’éléments finis pour décrire la déformation des métaux à haute température en utilisant le logiciel de simulation ANSYS. On considère que les paramètres sont aléatoires et on a proposé une étude probabiliste du système mécatronique. 
DO  - 10.21494/ISTE.OP.2017.0119 
JF  - Incertitudes et fiabilité des systèmes multiphysiques 
KW  - Système embarqué,  modélisation,  simulation Monte Carlo,  RSM,  Monte Carlo simulation, Embedded System,  modeling,  RSM,  
L1  - http://openscience.fr/IMG/pdf/papier_radi-saadoune_done.pdf 
LA  - fr 
PB  - ISTE OpenScience 
DA  - 2017/02/9 
SN  - 2514-569X 
TT  - Probabilistic study of an embedded system 
UR  - http://openscience.fr/Etude-probabiliste-d-un-systeme-embarque 
IS  - Optimisation et Fiabilité 
VL  - 1 
ER  -